Apple запатентовала технологию контроля износа деталей в своих устройствах
Очень интересный патент появился в портфеле «яблочного» бренда – компания разработала систему контроля износа деталей электронной начинки по мере их эксплуатации. В ее основе лежит непрерывный мониторинг фактических показателей работы конкретных узлов и вычисление разницы между ними и эталонными значениями. Читать далее →